-
1 accelerating lens
-
2 accelerating lens
Макаров: ускоряющая линза -
3 просвечивающий электронный микроскоп
(TEM)Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Прибор, создающий увеличенное до просвечивающий электронный микроскоп106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение.Англо-русский словарь по нанотехнологиям > просвечивающий электронный микроскоп
-
4 TEM
(TEM)Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Прибор, создающий увеличенное до TEM106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение. -
5 transmission electron microscope
(TEM)Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Прибор, создающий увеличенное до transmission electron microscope106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце, который располагается на трехкоординатном нанопозиционере. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцентный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой. ПЭМ используют для наблюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии.Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)Электроны ускоряются, а затем фокусируются магнитными линзами. Увеличенное изображение, создаваемое электронами, которые проходят через диафрагму объектива, преобразуется люминесцентным экраном в видимое или регистрируется на фотопластинке. В ПЭМ можно получить увеличение до 1 млн. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – диафрагма; 4 –конденсорная линза; 5 – образец; 6 – объективная линза; 7 – диафрагма; 8 – проекционная линза; 9 – экран или пленка; 10 – увеличенное изображение.Англо-русский словарь по нанотехнологиям > transmission electron microscope
-
6 сканирующий электронный микроскоп
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Англо-русский словарь по нанотехнологиям > сканирующий электронный микроскоп
-
7 scanning electron microscope
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Англо-русский словарь по нанотехнологиям > scanning electron microscope
См. также в других словарях:
ЛИНЗА акустическая — устройство для фокусировки звука путём изменения длины пути, проходимого акустич. волной, и её преломления (рефракции) на граничных поверхностях. Свойства Л. определяются свойствами материала линзы и окружающей её среды и формой преломляющих… … Физическая энциклопедия
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор, который позволяет получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. Электронный микроскоп (ЭМ) дает возможность видеть детали, слишком мелкие, чтобы их мог разрешить световой (оптический) микроскоп.… … Энциклопедия Кольера
ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫЕ ПРИБОРЫ — электронные электровакуумные приборы, в к рых для индикации, коммутации и др. целей используется поток электронов, сконцентрированный в форме луча или пучка лучей. Э. л. п., имеющие форму трубки, вытянутой в направлении луча, наз. электронно… … Физическая энциклопедия
просвечивающий электронный микроскоп — Transmission Electron Microscope (TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Прибор, создающий увеличенное до просвечивающий электронный микроскоп106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
TEM — Transmission Electron Microscope (TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Прибор, создающий увеличенное до TEM106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через образец. Электронный пучок… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
transmission electron microscope — Transmission Electron Microscope (TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) Прибор, создающий увеличенное до transmission electron microscope106 раз изображение образца с помощью электронного пучка (1 – 5000 кэВ), проходящего через… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
УСКОРИТЕЛИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ — установки, служащие для ускорения заряж. частиц до высоких энергий. При обычном словоупотреблении ускорителями (У.) наз. установки, рассчитанные на ускорение частиц до энергий более МэВ. На рекордном У. протонов теватроне достигнута энергия 940… … Физическая энциклопедия
сканирующий электронный микроскоп — Scanning Electron Microscope (SEM) Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
scanning electron microscope — Scanning Electron Microscope (SEM) Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
